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Convegno Internazionale di Metrologia - Ed. 2017

[ 19.09.2017 - 21.09.2017 ]

Parigi, Porte de Versailles - Riunione internazionale



CIM2017

Convegno Internazionale di Metrologia
Ed. 2017



Parigi
  19 - 21 settembre 2017

Paris Expo Porte de Versailles - Pavillon 4
I place de la Porte de Versailles

 

L'INDUSTRIA INCONTRA LA SCIENZA

Il Convegno Internazionale di Metrologia è un evento di 3 giorni organizzato per conoscere le tecnologie di misurazione, esplorare le sfide industriali e scoprire le ultime innovazioni attraverso:

  • un ricco programma e sessioni di tavole rotonde,
  • visite tecniche in loco e dimostrazioni,
  • un'esposizione che mostra innovazioni e soluzioni.


L'intento è quello di:

  • migliorare i processi di misurazione, analisi e test e il controllo dei rischi,
  • esplorare l'evoluzione delle tecniche e i vantaggi nell'R&D e le applicazioni industriali.

 

PARTECIPANTI

Più di 1000 partecipanti provenienti da 50 paesi.

  • utilizzatori di tecnologia di misurazione nell'industria e nei laboratori,
  • responsabili della qualità e amministratori,
  • produttori di apparecchiature e fornitori di servizi,
  • universitari e ricercatori.



TEMI TRATTATI
 

  • Processo - Incertezza, Tracciabilità, Circuiti interlaboratorio, taratura, Verifica, Formazione, Ottimizzazione dei costi, Certificazione, Funzione della metrologia,
  • Tecniche - Massa, Forza, Portata, Pressione, Dimensionale, Elettricità, Frequenza, Temperatura, Igrometria, Ottica e fotonica, Radiazioni ionizzanti, Acustica, Misure chimiche, Misure biologiche,
  • Prospettive - Misure dinamiche, Produzioni di additivi, Metrologia dei dati, Strumenti news, Cambio delle unità, Reti intelligenti, Nanotecnologia, Biotecnologia e salute, Questioni ambientali,
  • Regolamentazione,
  • Riconoscimento internazionale.



TAVOLE ROTONDE

 

  • Droni e monitoraggio: il ruolo per la misurazione?,
  • Misurazione e dichiarazione di conformità: evoluzione della ISO 17025,
  • Misurazione dinamica e la fabbrica del futuro: l'attività di metrologia,
  • La metrologia oggi nel settore farmaceutico,
  • Quali progressi per la misurazione su nanoscala?,
  • Le misurazioni per la qualità dell'acqua.

 

INFORMAZIONI


Segreteria generale

Collège Français de Métrologie
tel. 33 (0)4 67 06 20 36
e-mail info@cfmetrologie.com
 

In allegato il programma dettagliato delle giornate.
Per maggiori informazioni visitare il sito dedicato: www.cim2017.com