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Convegno “Metrologia delle superfici funzionali – Metrology of Functional Surfaces”

Data
19 Apr
Orario inizio
10.30
Orario fine
13.30
Sede
Sala Area Corsi - Testing
Oval Lingotto Fiere
Città
Torino
Indirizzo
Via Nizza, 294
INRIM, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, organizza un convegno nell'ambito della Fiera A&T Automation & Testing di Torino.
Programma
10.30
Introduzione
Introduction
Speakers
Gian Bartolo Picotto
INRIM
10.45
Metrology for the highly-parallel manufacturing: the MetHPM project
Metrologia per la manifattura altamente parallela: il progetto MetHPM
Speakers
Christopher Jones
National Physical Laboratory, UK, project Coordinator
11.35
Applicazioni di metrologia ottica ed elettrica per la mass production delle celle fotovoltaiche
Applications of optical and electrical metrology in mass production of photovoltaic cells
Speakers
Stefano Visintin
Baccini Cell Systems, Applied Materials Italy
12.15
Caratterizzazione funzionale di conduttori stampati su celle PV e su fogli plastici R2R
Function-driven characterization of printed conductors on PV cells and plastic R2R sheets
Speakers
Luigi Ribotta
INRIM
12.50
Tecnologie ed applicazioni di misura ottica submicrometrica in ambiente di produzione
Submicrometric optical measurement technologies and applications in a production environment
Speakers
Fabio Rosi
VEA Srl
13.10
L’implementazione del controllo qualità nell’industria del futuro 4.0
The Implementation of Quality Assurance Processes in the future Industry 4.0
Speakers
Gabriele Graziosi
GOM Italia Srl
13.30
Conclusioni
Conclusions
Speakers
Gian Bartolo Picotto
INRIM
Organizzato da:
INRIM

A&T Automation & Testing

Telefono
011 0266700