10.30
Introduzione
Introduction
Speakers
Gian Bartolo Picotto
INRIM
10.45
Metrology for the highly-parallel manufacturing: the MetHPM project
Metrologia per la manifattura altamente parallela: il progetto MetHPM
Speakers
Christopher Jones
National Physical Laboratory, UK, project Coordinator
11.35
Applicazioni di metrologia ottica ed elettrica per la mass production delle celle fotovoltaiche
Applications of optical and electrical metrology in mass production of photovoltaic cells
Speakers
Stefano Visintin
Baccini Cell Systems, Applied Materials Italy
12.15
Caratterizzazione funzionale di conduttori stampati su celle PV e su fogli plastici R2R
Function-driven characterization of printed conductors on PV cells and plastic R2R sheets
12.50
Tecnologie ed applicazioni di misura ottica submicrometrica in ambiente di produzione
Submicrometric optical measurement technologies and applications in a production environment
13.10
L’implementazione del controllo qualità nell’industria del futuro 4.0
The Implementation of Quality Assurance Processes in the future Industry 4.0
Speakers
Gabriele Graziosi
GOM Italia Srl
13.30
Conclusioni
Conclusions
Speakers
Gian Bartolo Picotto
INRIM